SCANFLEX II CUBE: Controller di nuova generazione JTAG / Boundary Scan

SCANFLEX_II_Cube

SCANFLEX II CUBE: Controller di nuova generazione JTAG / Boundary Scan

Maggiore profondità nel test con minor utilizzo di hardware esterno


GOEPEL electronic presenta SCANFLEX II CUBE, la nuova generazione di controlli JTAG / Boundary Scan modulari. Sulla base degli ultimi processori multi-core e FPGA, SCANFLEX II CUBE apre nuove vie per soluzioni JTAG Embedded. Questo metodo di test e validazione utilizza strumenti embedded per testare e programmare schede complesse. Ciò con il vantaggio di una maggiore profondità nel test e con minor utilizzo di hardware esterno.
L’architettura multifunzionale della SCANFLEX II CUBE consente all’utente di combinare numerose tecnologie in modo flessibile e con elevate prestazioni su un’unica piattaforma. Il test embedded Board offre il vantaggio di una profondità di prova notevolmente migliorata per schede complesse anche senza bisogno di aghi. Ad esempio, può essere implementato un test funzionale incorporato mentre la programmazione integrata rende inutili i programmi/programmatori esterni.

Otto porte di accesso indipendenti parallele (TAP) consentono l’esecuzione sincronizzata delle operazioni di test fino a 100 MHz, oltre a debug e programmazione tramite soluzioni JTAG incorporate (Boundary Scan, Processor Emulation, Chip Embedded Instruments). SCANFLEX II CUBE può essere controllato tramite USB 3.0 e Gbit LAN.