Il primo Tester-on-Chip (ToC) al mondo JTAG e Mixed signal.
– Supporto degli ultimi standard Boundary Scan (IEEE1149.1 / .6 / .8.1)
– Configurazione flessibile dei canali single-ended e differenziali
– Uso simultaneo di strumenti analogici e digitali integrati per canale
– Supporto di test funzionali e dinamici ... Leggi...
CONTATTACI PER UNA CONSULENZA
